以超大板处理能力、微米级缺陷捕捉精度、智能化软件生态及工业级可靠...
超大板处理能力
支持 1200mm × 660.4mm(47.24"×26") 的电路板,覆盖工业级超大尺寸PCB(如服务器主板、汽车电子)。
最大承重 15kg,满足高密度、多层板检测需求。
微米级缺陷检测
最小检测能力:
短路宽度:0.045mm(行业领先水平)
引脚间距:0.3mm(兼容高密度IC)
最小锡厚:0.0127mm(精准把控焊接质量)。
高可靠性
误判率仅 500–1000 ppm(百万分之一),显著降低复检成本。
强大的软硬件平台
八核 Intel Xeon 处理器 + Windows 10 Pro,确保复杂算法流畅运行。
用户界面简洁,支持多级密码保护,保障数据安全。
快速测试开发
支持 4 种主流 CAD 格式转换(选配工具),缩短适配周期。
标准开发时间 4小时–1.5天,加速产线部署。
灵活编程选项
支持离线测试开发,减少设备占用时间。
全面兼容工业标准
输送高度 865–1025mm,无缝对接主流产线。
通讯协议支持 SMEMA/HERMES,读码器兼容行业标准设备。
复杂板卡适应性
板厚范围 0.5–12.7mm,翘曲容忍度 ±3.3mm,适应变形板卡。
100% 压合件测试(需 PSP2/PSP2.1),解决高难度多层板检测痛点。
超低辐射安全
X光辐射 < 0.5μSv/hr(远低于国际安全限值),保障操作员健康。
板卡温度耐受 40℃,适应高温环境。
工业级可靠性设计
底部间隙 80mm,顶部多级分辨率适配(7.5–19µm),兼容多样检测需求。
边缘间隙仅 3mm,最大化检测区域利用率。
精准光学配置:顶部间隙按分辨率分级优化(如 50mm@19µm),平衡精度与兼容性。
严苛环境适配:支持 200–415V 三相电源 + 552kPa 高压气源,满足工业现场需求。
系统 | V810i S2 XLL |
系统控制器 | 综合控制器, 八核心Intel Xeon处理器 |
操作系统 | Windows 10 Pro (64 bit) |
测试开发环境 | |
用户界面 | 采用微软视窗的软件解决方案与简单的用户界面和用户级别的密码保护 |
离线编程开发软件 | 可选项离线测试 |
转换工具 | 在 V810i 软件和可选软件中支持 4 种不同类型的 CAD,可用于将其他 CAD 数据转换为 ViTrox 的格式 |
标准测试开发时间 | 4小时至1.5天以转换原本的CAD 文件和开发应用程式 |
生产线整合 | |
输送高度 | 865mm - 1025mm |
标准通讯输送装置 | SMEMA, HERMES |
读码器 | 兼容大多数行业标准的读码器 |
系统性能参数* | |
误判率 | 500 - 1000ppm |
最小特征的检测能力 | |
脚间距 1 | 0.3mm and 以上 |
短路宽度2 | 0.045mm |
最小锡厚 | 0.0127mm |
电路板检测特性** | |
最大电路板尺寸 (L x W) | 1200.0mmx660.4mm (47.24"x26") |
最小电路板尺寸 (L x W) | 76.2mmx76.2mm (3" x 3" ) |
最大电路板可检测的区域 | 1200.0mmx654.4mm (47.24"x25.7") |
最大电路板厚度 | 12.7mm (500 mils) |
最小电路板厚度 | 0.5mm (20 mils) |
电路板翘曲 | 下弯< 3.3mm; 上弯 < 3.3mm |
最大电路板重量 | 15kg |
电路板顶部间隙 |
50mm @ 19µm 解析度 31mm @ 15µm 解析度 13mm @ 11µm 解析度 31mm @ 10µm 解析度# 13mm @ 7.5µm 解析度# (从顶部表面计算起) |
电路板低部间隙 | 80mm |
电路板边缘间/td> | 3mm |
100% 压合件测试能力 | Yes (配以 PSP2 / PSP2.1 功能) |
电路板可承受的最高温度 | 40℃ |
安全基本标准 | X光辐射剂量率低于0.5uSv/hr |
安装规格 | |
电压需求 | 200 – 240 VAC 3相; 380 – 415 VAC 3相 wye (+/- 5) (50Hz or 60Hz) |
空气需求量 | 552 kPA (80psi) |
系统体积 (宽度 X 深度 X 高度) | 2695mmx2460mmx1980mm |
重量 | ~6700kgs |
规格可能会有所更改。
**注2:
1. 利用边缘宽度处理电路板。切割过的电路板边缘需要使用载具来处理。
2. 电路板的最大尺寸和重量含载具在内。
3. 使用载具可测试较小面积的电路板。
4. 随着电路板的厚度,图像结果将会受表面贴装的规划所影响。
5. 从电路板底部测量包括最大翘曲。